TEXTO PAGINA: 38
Pág. 208712 NORMAS LEGALES Lima, lunes 13 de agosto de 2001 ciones necesarias de compatibilidad con los otros dispo- sitivos de un sistema de medición. 5.1.9 Aprobación de modelo de un sistema de medición La aprobación de modelo de un sistema de medición consiste en verificar que los elementos componentes de este sistema, que no han sido sometidos a aprobaciones de modelo separadas, cumplan los requisitos aplicables y que estos elementos componentes sean compatibles. Por lo tanto, los ensayos a realizar para una aproba- ción de modelo de un sistema de medición deben ser determinados en función de las aprobaciones de modelo ya otorgadas para los elementos componentes de este sistema. Cuando ninguno de los elementos componentes ha sido objeto de una aprobación de modelo separada, es necesario realizar en el sistema de medición completo todos los ensayos previstos en 5.1.5 ; 5.1.6 y 5.1.7 (espe- cialmente). Por el contrario, cuando los diferentes ele- mentos de un sistema de medición son todos aprobados por separado, es posible reemplazar la aprobación de modelo basada en ensayos por una aprobación de modelo basada en planos. También es conveniente reducir el programa de eva- luación del modelo cuando el sistema de medición inclu- ye elementos componentes idénticos a los destinados a equipar otro modelo de sistema de medición anterior- mente aprobado y que las condiciones de funcionamiento de estos elementos componentes son idénticas. Por ejem- plo, no es necesario realizar el ensayo de expansión de una manguera en un surtidor de combustible cuando la manguera de este sistema de medición es idéntica a la destinada a equipar otro sistema de medición ya aproba- do con la misma cantidad medida mínima. NOTA: Cuando los elementos componentes están destina- dos a equipar varios modelos de sistemas de medición, es recomendable que éstos sean sometidos a una aprobación de modelo separada. Esto es especialmente conveniente cuando estos diversos sistemas de medición son de fabrican- tes diferentes y cuando los organismos encargados de las aprobaciones de modelo son diferentes. 5.1.10 Aprobación de modelo de un dispositivo electrónico Además de los exámenes y ensayos descritos en los párrafos precedentes, un sistema de medición electróni- co o un elemento componente de este sistema es someti- do a los siguientes ensayos y exámenes. 5.1.10.1 Inspección del diseño Este examen basado en documentos tiene por objeto verificar que el diseño de los dispositivos electrónicos y de sus sistemas de control cumplan los requisitos de la presente Norma Metrológica Peruana y especialmente el capítulo 4 . Esto incluye: a) un examen de las características de la construcción y de los subsistemas y componentes electrónicos utiliza- dos, a fin de asegurarse de la aptitud para el uso previsto; b) la consideración de las fallas que podrían producir- se, para asegurarse de que, en todos los casos considera- dos, estos dispositivos cumplan los requisitos de 4.3 ; c) la verificación de la presencia y la eficacia del o los dispositivos de ensayo de los sistemas de control. 5.1.10.2 Ensayos de desempeño Estos ensayos tienen por objeto verificar que el siste- ma de medición cumple las disposiciones de 4.1.1 con respecto a las magnitudes de influencia. Estos ensayos están especificados en el anexo A de la Recomendación Internacional OIML R 117. a) Desempeño bajo el efecto de factores de influencia: Cuando el equipo es sometido al efecto de los factores de influencia, debe seguir funcionando correctamente y los errores no deben sobrepasar los errores máximos permisibles aplicables.b) Desempeño bajo el efecto de perturbaciones Cuando el equipo es sometido a perturbaciones ex- ternas, debe seguir funcionando normalmente o detec- tar e indicar la presencia de cualquier falla significativa. Sin embargo, no deben producirse fallas significativas cuando el sistema de medición es no interrumpible. 5.1.10.3 Equipo sometido a ensayo (ESE) Los ensayos se realizan en el sistema de medición completo cuando sus dimensiones y su configuración lo permiten, a menos que se especifique lo contrario. Cuando los ensayos se realizan en el sistema de medición completo, deben llevarse a cabo en un subsis- tema que incluya por lo menos los siguientes dispositi- vos: - transductor de medición; - procesador (calculadora); - dispositivo indicador; - alimentación eléctrica; - dispositivo de corrección; si es aplicable. Este subsistema debe ser incluido en un montaje que permita una simulación representativa del funciona- miento normal del sistema de medición. Por ejemplo, el movimiento del líquido puede ser simulado mediante un dispositivo apropiado. El procesador (calculadora) debe estar dentro de su cubierta definitiva. En todos los casos, se puede ensayar por separado el equipo periférico. 5.2 Verificación inicial 5.2.1 Generalidades La verificación de un sistema de medición se realiza en una sola fase cuando el sistema puede ser transporta- do sin desmontarlo y cuando es verificado en las condi- ciones previstas para su uso; en todos los demás casos, ésta se realiza en dos fases. La primera fase incluye por lo menos el transductor de medición solo o provisto de los dispositivos comple- mentarios asociados, posiblemente incluidos en un sub- sistema. Los ensayos de la primera fase pueden realizar- se en un banco de ensayo, posiblemente en la fábrica del fabricante, o en el sistema de medición instalado. En esta etapa, los exámenes metrológicos pueden realizarse con líquidos diferentes a aquellos para los cuales está desti- nado el sistema. La primera fase también incluye el procesador (cal- culadora) y el sensor de densidad. Si es necesario, el transductor de medición y el procesador (calculadora) pueden ser verificados por separado. La segunda fase incluye el sistema de medición en las condiciones reales de funcionamiento. Esta se realiza en el lugar de instalación en las condiciones de uso y con el líquido para el cual está previsto el sistema. Sin embar- go, la segunda fase puede llevarse a cabo en un lugar elegido por el organismo de verificación cuando el siste- ma de medición pueden ser transportado sin desmotarlo y cuando los ensayos pueden realizarse en las condicio- nes de uso previstas para el sistema de medición. La verificación inicial de sistemas de medición elec- trónicos debe incluir un procedimiento que permita controlar la presencia y el funcionamiento de los siste- mas de control mediante los dispositivos de ensayo especificados en 4.3 . 5.2.2 Ensayos 5.2.2.1 Cuando la verificación inicial se lleva a cabo en dos fases, la primera debe incluir: - un examen de conformidad del medidor, incluyendo los dispositivos complementarios asociados (conformi- dad con los modelos respectivos); - un examen metrológico del medidor, incluyendo los dispositivos complementarios asociados. La segunda etapa debe incluir: